내쇼날인스트루먼트는 NI PXIe-4139 시스템 소스 측정 유닛(SMU)을 발표하며 SMU 포트폴리오에 고성능 옵션을 추가했다고 밝혔다.

이 SMU는 반도체에서 자동차, 가전제품에 이르기까지 다양한 업계에 종사하는 테스트 엔지니어들이 전반적인 테스트 비용을 절감하고 시장 출시 기간을 단축할 수 있다.

NI PXIe-4139는 NI Source Adapt 기술을 탑재해 엔지니어들이 SMU 컨트롤을 맞춤 설정함으로써 어떤 로드에 대해서도 최적의 SMU 응답 특성을 생성할 수 있도록 도와준다.

이렇게 하면 테스트 중인 디바이스를 보호하고 시스템 안정성을 높일 수 있다. 또한 NI PXIe-4139 시스템 SMU는 기존의 SMU보다 100배나 빠른 1.8 MS/s에서 측정을 수행할 수 있다.

따라서 엔지니어들은 테스트 시간을 절감하고 외부 스코프 없이도 일시적인 디바이스의 동작을 수집할 수 있게 된다.

내쇼날인스트루먼트 테스트 시스템 그룹 매니저는 "엔지니어와 과학자들이 NI PXIe-4139를 사용하면 최대 500W의 광범위 펄스 기능과 100 fA까지 감지할 수 있는 민감도 등 폭넓은 IV 경계를 확보해 하나의 계측기로 다양한 종류의 디바이스를 테스트할 수 있다"며 "또한 자동화 테스트 장비에서는 컴팩트한 크기 역시 중요한 요소로 기존의 박스형 계측기 SMU와 비교할 때 시스템에서 차지하는 공간을 크게 줄여줄 수 있다"고 말했다.